目录
趋势与展望
GaN HEMT可靠性光学测试技术研究进展杜成林;蔡小龙;孙梓轩;刘海军;张煜;段向阳;陆海;657-668半导体集成电路
一种增益与共模电压可编程的输出缓冲级电路王国峰;赵宏亮;刘兴辉;赵野;王思博;669-674+700
一款S波段双通道FBAR滤波器王胜福;李丽;675-679半导体器件
ITO/Al复合透明导电薄膜对紫外LED光电性能的提升王雪;崔志勇;王兵;薛建凯;张向鹏;段瑞飞;曾一平;李晋闽;680-684
一种高结终端效率1700V/10A SiC功率MOSFET刘岳巍;杨瑞霞;张志国;王永维;邓小川;685-689+695
基于体硅MEMS工艺的基片集成波导双工器陆宇;690-695
16线集成窄脉冲半导体激光器模块的研制张厚博;王晓燕;崔璐;李晓红;杨红伟;696-700半导体材料
高Al组分AlGaN的MBE生长及表面活性机理贾浩林;杨文献;陆书龙;丁孙安;701-706+736
高纯InP多晶的合成技术付莉杰;张晓丹;张鑫;康永;王书杰;刘惠生;孙同年;孙聂枫;707-712
少层二硫化钼薄膜的制备及其光谱特性马春阳;杨德威;杜凯翔;常晓萌;杨培志;713-717+736半导体制造技术
一种新型的硅片研磨后清洗液李明智;韩焕鹏;常耀辉;张颖武;莫宇;刘峰;718-722半导体检测与设备
15kV SiC IGBT芯片常温动态特性测试杜泽晨;吴沛飞;任志军;杨晓磊;张一杰;赵志斌;柏松;杨霏;723-729可靠性
手机结构设计因子对产品级跌落可靠性的影响石磊;刘振;陈卓;李健辉;龙浩晖;朱文辉;730-736